Инвертированный металлографический микроскоп Olympus GX-51 с системой визуализации

⁠Назначение: Исследование микроструктуры материалов.

Основные технические характеристики:

- Диапазон увеличение с учетом окуляров 10х: 50-1000х

- Система визуализации Siams 700

- Цифровая камера, разрешение 2048 х 1536 пикселей

Микроскоп предназначен для оптических исследований, при прямом освещении в отражённом свете микроструктуры различных образцов материалов, в т.ч. композитов на основе углеродного и других типов волокон. Благодаря системе визуализации, состоящей из цифровой камеры и ПО «SIAMS 700», реализованы практически все известные методики исследований шлифов металлов и других препаратов, металлографического анализа. ПО «SIAMS 700» предназначено для автоматизации металлографического анализа с целью оценки качества продукции и входного контроля материалов в соответствии с требованиями российских и зарубежных стандартов.